5GやAIの普及を背景に、スマートフォンやウェアラブル機器などの電子製品は多様化が進み、内部構造も一層複雑化しています。重要な構成部品であるミドルフレームは、外観品質や補助材料に対する検査が非常に厳しいです。

ICT産業では製品の一貫性と良品率に対する要求が非常に高いです。従来の検査方法や一般的な自動化ソリューションでは、検査効率の限界や誤判定率の高さが課題となっていました。規模化かつ精密な製造に対応するためには、複雑な工程に適応し、高い安定性を持つインテリジェント検査技術が不可欠となっています。

LEADの子会社であるLead-techは、AOI検査を中核としたスマートフォン用ミドルフレーム2D＋3D欠陥検査装置を開発しました。自社開発の画像検査技術を深く融合した同装置は、スマートフォンなど電子製品の外観および補助材料に対する検査に適用されています。LEADは高精度の画像検査（AOI）分野における技術の優位性が更に強化されていると言えます。

技術イノベーション

全工程向けのワンストップ検査ソリューション

今回発表された装置は、従来のAOI検査装置とは異なり、AOI検査を中核に2D＋3D画像検査技術を融合した自動化検査システムとして設計されています。 ミドルフレーム製造プロセスに合わせて最適化されています。ラインには供給、洗浄、2つのAOI検査、排出などが統合されたため、「表面前処理」から「精密欠陥判定」までワンストップ検査ソリューションを提供しています。

ミドルフレーム検査特有の課題に対応するため、以下の独自技術を搭載しています。

自社開発5軸オンザフライ画像処理システム

従来の撮像角度の制限を突破し、多角度から死角のない画像取得を実現します。

多ゾーン高輝度照明システム

微細欠陥を高精度に検出し、画像コントラストを大幅に向上します。

擬人化高効率クリーニング機構

 50Hz高速XYZ移動プラットフォームを採用し、粉塵による誤判定問題を効果的に解消します。

生産ライン全体のシステム統合と主要工程パラメータの最適化により、本装置は業界先進レベルの検査効率を実現しています。顧客の技術工法における追求と突破を支えています。

高効率性能を持ち

「圧倒的実力」のデータ証拠

成熟した画像システムとインテリジェントデータプラットフォームを基盤に、本装置は生産ラインにおいて卓越した安定性を発揮しており、主要指標において業界平均水準を大幅に上回っています。

高効率の検査作業

120種類以上の欠陥を検出可能、検査時間はわずか6秒です。

高精度の品質管理

欠陥の見逃し率を0.5％以内に抑制します。

インテリジェント分析

FAとの連携により、データ分析効率を2倍に向上します。

現在までは業界の大手企業への納入実績があります。安定かつ効率的な品質管理体制の構築を支援しています。今後もLEADは技術イノベーションを強化するとともに、顧客ニーズや課題への迅速な対応を継続し、ICT産業における品質高度化の推進に貢献していきます。